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XRF-P1  异物颗粒元素分析仪
XRF-P1 异物颗粒元素分析仪
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XRF-P1 异物颗粒元素分析仪

 详情说明
产品简介

在锂电材料精密生产过程中,金属异物颗粒污染是影响电池性能的关键隐患。Fe Cr Ni Cu Zn金属杂质会加速自放电,降低能量密度;金属颗粒可能刺穿隔膜引发短路;纤维污染物则会干扰离子传输效率。因此,快速精准地识别各类异物颗粒的成分与尺寸,对保障电池品质与安全性至关重要。

FASMEI颗粒元素分析仪分析过程极为简便,只需一键就可轻松获得金属非金属纤维颗粒结果;

金属颗粒快速定位分析;

可手动及全自动进行目标颗粒元素分析。

按VDA19.1 / ISO16232技术清洁度要求进行分析

利用高能量X射线激发样品中的原子,使其内层电子被激发跃迁到高能级,当外层电子回落到低能级时,会释放出特征X射线,即荧光X射线。

根据莫塞莱定律:荧光能量与原子序数平方(Z²)成正比,通过谱峰位置就可以定性分析,通过能量强度进行定量分析。

按VDA19.1 / ISO16232技术清洁度要求进行分析

报告为默认为中英文版本,特殊版本可定制

应用:锂电池原材料、汽车电子、汽车零部件、环境监测、半导体、航空航天

产品原理

利用高能量X射线激发样品中的原子,使其内层电子被激发跃迁到高能级,当外层电子回落到低能级时,会释放出特征X射线,即荧光X射线。

根据莫塞莱定律:荧光能量与原子序数平方(Z²)成正比,通过谱峰位置就可以定性分析,通过能量强度进行定量分析。

按VDA19.1 / ISO16232技术清洁度要求进行分析

报告为默认为中英文版本,特殊版本可定制

技术参数

分析元素:AL(13)-U(92)

微聚焦加强X射线管:标配Mo靶 可选Rh、Cr、W

多导毛细聚焦管:小于20um光斑

SDD(硅漂移)探测器,计数率>1000000cps

超大XYZ样品台

1-6个滤膜样品分析

检测颗粒≥5um

自动快速分析金属、非金属、纤维异物颗粒

铜锌颗粒快速检测

金属颗粒快速定位分析

可手动及全自动进行目标颗粒元素分析。

分析标准可自定义

自定义元素数据库

SQL数据库管理